TS系列冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱价格全网较优惠

TS系列冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱
*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；
设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；
高强度、高**性的结构设计- 确保了设备的高**性；
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到较小；
表面喷塑处理- **设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）**了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求；

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高**性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用国际流行的制冷控制模式，可以0%~**自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用国际****产品，使设备的整体质量得到了提升和**；

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 *2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 *2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 *装备实验室环境试验方法 *3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 *装备实验室环境试验方法 *4部分：低温试验
GJB 150.**-2009 *装备实验室环境试验方法 *5部分：温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
型 号	
	TSD-80F-2P	TSD-150F-2P	TSD-200F-2P	TSD-300F-2P
标称内容积（升）	80	150	200	300
试验方式	气动风门切换2温室或3温室方式
性能	高温室	预热温度范围	＋60～＋200℃
		升温速率※1	＋60→＋200℃≤20分钟
	低温室	预冷温度范围	－78－0℃
		降温速率※1	＋20→－75℃≤80分钟
	试验室	温度偏差	±2℃
		温度范围	TSD：（+60→+125）℃ TSD：（-40－-10）℃;TSD:（+60～+150）℃ TSD（-55～-10）℃; TSD:（+60～+150）℃TSD：（-65～-10）℃
		温度恢复时间※2	5分钟以内 
试样搁架承载能力	30kg
试样重量	7.5kg	7.5kg	10kg	10kg
内部尺寸（mm）	W	500	600	750	850
	H	400	500	500	600
	D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）※4	W	1460	1560	1710	1880
	H	1840	1940	1940	2040
	D	1500	1600	1700	1900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）
型号	
	TSD-80F-2P  
TSD-80F-2P 			TSD-408-2P
TSD-408-2P

标称内容积（升）			200	300
试验方式	气动风门切换2温室或3温室方式
性能	高温室	预热温度范围	＋60～＋200℃
		升温速率※1	＋60→＋200℃≤20分钟
	低温室	预冷温度范围	－78－0℃
		降温速率※1	＋20→－75℃≤80分钟
	试验室	温度偏差	±2℃
		温度范围	:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		温度恢复时间※2	5分钟以内
试样搁架承载能力	30kg
试样重量	7.5kg	7.5kg	10kg	10kg
内部尺寸（mm）	W	500	600	750	850
	H	400	500	500	600
	D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）※4	W	1460	1560	1710	1880
	H	1840	1940	1940	2040
	D	1500	1600	1700	1900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）